认 证:工商信息已核实
访问量:3616335
BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统(洁净度分析系统)是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫做粒度粒形分析系统;用在洁净度分析时叫做洁净度分析系统。
BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统(洁净度分析系统)是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫做粒度粒形分析系统;用在洁净度分析时叫做洁净度分析系统。
在粒度粒形分析中,BT-1700能把载玻片上的每一个颗粒一次全部分析完。得出的粒度信息包括每一个颗粒的粒径、大颗粒,中位径,粒度分布数据和曲线等;得出的粒形信息包括每一个颗粒的球形度和长径比等粒形参数,以及球形度和长径比分布数据和曲线。
在清洁度分析中,通过BT-1700对相邻视场无缝拍摄功能和无缝合成一幅大图像功能,能将直径为50mm的滤膜的每一个细小环节全部展现出来,得到了一幅滤膜(连同滤膜上的颗粒)被放大几百倍了的图像。通过软件对图像进行分析,计算出每一个颗粒的直径,在按清洁度标准进行分级并计算出每一个粒级的颗粒占总量的百分比,从而得出所分析的对象的洁净度等级。
BT-1700通常配一台具有透射和反射功能的常规显微镜,配一个百特自主研发的自动载物台,配一套图像分析与处理软件。如果他配金相显微镜等特殊显微镜,还会有更多的功能。
基本性能指标
测试范围 | 1-10000μm |
放大倍数 | 160/200/400/800/1600倍 |
重复性误差 | ≤1%(国标样D50偏差) |
准确性误差 | ≤1%(国标样D50偏差) |
颗粒识别速度 | ≥10000个/分钟 |
进口高速CCD | 120帧/秒 |
扫描范围 | 直径为55mm |
测量时间 | ≤10分钟 |
漏检率 | ≤3%(10微米以上颗粒无漏检) |
金属颗粒识别准确率 | >90% |
纤维颗粒识别准确率 | >92% |
应用领域
● 磨料:如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。
● 电池材料:球形石墨粉等。
● 金属粉:如球形铝粉、铅锡合金粉、其他雾化金属粉。
● 非金属粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等。
● 针状粉:如硅灰石等。
● 其他:如科研、教学等。
突出特点
● 洁净度分析:可分析粒度分布、颗粒数等,符合ISO16232、NAS1638标准,是精密机械制造等领域洁净度分析优选仪器。
● 金属和纤维颗粒识别技术:如果样品中有金属颗粒或纤维颗粒,系统能自动识别出来,并给出含量等量化指标。
● 自动测试技术:点击自动测试按钮,系统将自动寻找原点,自动拍摄、自动合成全景图像、自动分析每个颗粒、自动显示结果。
● 无缝合成全景图像:精确控制的电动平台移动扫描拍摄局部图像,然后将每个局部图像合成全景图像,实现无缝连接,并对全景图像进行粒度、粒形分析,保证了颗粒的代表性。
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类
- BT-101金属粉松装密度仪
- BT-200金属粉末流动性测定仪
- BT-100松装密度仪
- BTPM-AWS2智能恒温恒湿称重系统
- BT-Online1A在线激光粒度监测与控制系统
- BT-Online2在线激光粒度监测与控制系统
- BeNano 180 纳米粒度仪
- BeNano 90 纳米粒度分析仪
- BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位仪
- BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta 电位仪
- BeNano Zeta电位分析仪
- BeNano 180 Pro纳米粒度仪
- BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪
- Bettersize2000S喷雾激光粒度仪
- BTPM-MWS1低浓度恒温恒湿半自动称重系统
- BettersizeC400光学颗粒计数器