纳米粒度仪-BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪

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产品简介

BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

基本性能指标

粒径测试	粒径范围	0.3nm-15μm^★
	样品量	3μL-1mL^★
	检测角度	90° & 12°
	分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN
	浓度上限	40% w/v^★
Zeta电位测试	技术	相位分析光散射
	检测角度	12°
	Zeta范围	无实际限制
	电泳迁移率范围	>±20um.cm/v.s
	电导率范围	0-260mS/cm
	*小样品量	0.75mL-1.0mL
	Zeta测试粒径范围	2nm-110μm
分子量测试	分子量范围	342Da-2×10⁷Da^★
趋势测量	模式	时间和温度
粘度测试	粘度范围	0.01cp-100cp^★
系统参数	温控范围	-10°C-110°C，精度±0.1°C
	激光光源	50mW高性能固体激光器，671nm
	相关器	*多4000通道，10¹¹动态线性
	检测器	APD，高性能雪崩光电二极管
	光强控制	0.0001%-100%，手动或自动
★取决于样品和选件

检测参数

● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
● 颗粒体系的Zeta电位及其分布
● 分子量
● 分布系数PD.I
● 扩散系数D
● 流体力学直径DH
● 颗粒间相互作用力因子kD
● 溶液粘度

检测技术

● 动态光散射
● 电泳光散射
● 相位分析光散射
● 静态光散射