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产品简介
BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。
基本性能指标
Zeta电位测试 | 技术 | 相位分析光散射 |
检测角度 | 12° | |
Zeta范围 | 无实际限制 | |
电泳迁移率范围 | >±20um.cm/v.s | |
电导率范围 | 0-260mS/cm | |
*小样品量 | 0.75mL-1.0mL | |
Zeta测试粒径范围 | 2nm-110μm | |
系统参数 | 温控范围 | -10°C-110°C,精度±0.1°C |
激光光源 | 50mW高性能固体激光器,671nm | |
相关器 | *多4000通道,1011动态线性 | |
检测器 | APD,高性能雪崩光电二极管 | |
光强控制 | 0.0001%-100%,手动或自动 | |
★取决于样品和选件 |
检测参数
● Zeta电位
● Zeta电位分布
检测技术
● 电泳光散射
● 相位分析光散射
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